LAB-H2復(fù)合式超聲波硬度計(jì)
LAB-H2復(fù)合式超聲波硬度計(jì)目前，硬度測(cè)試可采用的方法很多，如布氏、洛式、維氏、里氏、超聲波法等。其中布氏和洛式對(duì)被測(cè)物表面損傷較大、而維氏成本較高，且都不能測(cè)試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測(cè)量硬度，測(cè)試布氏、洛式、維氏偏差較大。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無損檢測(cè)方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測(cè)厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國外普及。
LAB-H2超聲波硬度計(jì)原理
使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測(cè)件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測(cè)頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測(cè)量硬度的目的，該方法對(duì)被測(cè)件的損傷極小，與上述其它方法相比具有很大的優(yōu)越性?；谝陨显恚夜疽M(jìn)歐洲原裝超聲波探頭，研制出精度高、功能強(qiáng)大的LAB-H2型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。
超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f，Eeff），△f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量、F是彈簧壓緊力。
應(yīng)用場合
LAB-H2超聲波硬度計(jì)可測(cè)量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測(cè)量；錐度部分硬度測(cè)量；軸和薄壁管道、容器的測(cè)量；車輪、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測(cè)量；鉆頭的刀口的硬度測(cè)量；焊接部位；
LAB-H2超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)
o 測(cè)定與金屬、合金洛氏(HRC), 布氏 (HB), 維氏 (HV)標(biāo)準(zhǔn)硬度制
o 通過三個(gè)用戶模式測(cè)量不同屬性的金屬(如有色金屬, 高合金等.)
o 符合標(biāo)準(zhǔn)JB/T 9377-2010、ASTM A1038-2005、DIN50159、GB/T17394-1998、JB/T9378-2001
o 通過布氏硬度可自動(dòng)計(jì)算出抗拉強(qiáng)度
o 可測(cè)量厚度超過1毫米的各種部件（工模、齒輪、薄板、管道、水箱等等）
o 對(duì)曲軸刀具等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小
o 測(cè)量范圍寬
o 使用簡單方便，測(cè)量快速準(zhǔn)確
o 可自行校準(zhǔn)儀器(通過兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對(duì)儀器測(cè)值校準(zhǔn))
o 液晶顯示，帶背光
o 自由選擇10N、50N、100N探頭，儀器自動(dòng)識(shí)別
o 不受測(cè)量物內(nèi)側(cè)情況影響，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位
o 測(cè)量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測(cè)量
LAB-H2超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
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測(cè)試范圍
洛氏硬度, HRC
布氏硬度, HB
維氏硬度, HV
抗拉強(qiáng)度, MPa
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20 - 70
90 - 450
230 - 940
370 - 1740
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誤差范圍
洛氏硬度, HRC
布氏硬度, HB
維氏硬度, HV
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± 1
± 3%
± 3%
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外形尺寸, mm
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120x60 x25
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操作溫度° C
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-5至+40
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電源
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4節(jié)AA電池
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持續(xù)工作時(shí)間, 不少于
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100小時(shí)
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主機(jī)重量, kg
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0.9千克
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訂貨型號(hào)
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名稱型號(hào)
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產(chǎn)品描述
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超聲波硬度計(jì) LAB-H1
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標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支
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復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2
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標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭
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里氏硬度計(jì) LAB-H3
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標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支
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標(biāo)準(zhǔn)配置清單
o 主機(jī)
o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）
o 進(jìn)口里氏探頭
o 2節(jié)AA電池
o 說明書
o 線纜
o 儀器便攜包裝
可選配置
o 10N探頭和100N探頭
o 充電器
o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊
超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)
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測(cè)試裝置
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超聲波探頭
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里氏探頭
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長度：
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160mm
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140mm
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直徑
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25mm
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25mm
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壓痕深度
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30μm
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300 μm
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壓力
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14.7N
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11Nm
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傳感器測(cè)試壽命
(大約)
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200,000
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50,000
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*小測(cè)試厚度
(鋼)
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1mm
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12mm
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*小測(cè)試半徑
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5mm
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10mm
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*大表面粗糙度
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Ra 2.5 μm
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Ra 3.2 μm
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
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1000個(gè)測(cè)試值
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100個(gè)測(cè)試值
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測(cè)試時(shí)間
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4秒
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2秒
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